PICTS ve PL Yöntemleri ile Yar iletken Yap lar n ncelenmesi

Bu çalismada, GaInNAs / GaAs katkisiz tekli ve çoklu kuantum kuyulu ve modülasyon katkili üçlü kuantum kuyulu seyreltik nitratli yariiletkenlerdeki derin tuzak seviyeleri "Isikla Uyarilan Akim Transiyent Spektroskopisi-Photo-Induced Current Transient Spectroscopy-PICTS" yöntemi kullanilarak incelenmistir. Bu yöntem ile isikla uyarimdan sonraki akim bozulma (decay) egrilerinin sicaklikla degisimlerinden elde edilen PICTS sinyallerinden yararlanilarak derin seviyelerin aktivasyon enerjileri (Ea), yakalama tesir kesitleri (s) belirlenmistir. Ayrica bu örneklerin kontak kalitesini belirlemek için I-V karakteristigine bakilmistir. Isil isleme tabi tutulmus ve tutulmamis katkisiz tekli ve çoklu kuantum kuyulu yapilar için yapilan PICTS ölçümlerinde bulunan aktivasyon enerjileri ve yakalama tesir kesitleri kiyaslanip tavlamanin örnekler üzerindeki etkisi incelenmistir. Isil isleme tabi tutulmus modülasyon katkili örnek olmadigi için, sonuçlar sadece isil isleme tabi tutulmamis modülasyon katkili örnek için elde edilmistir. Bu yüzden bu örnek için sadece derin seviyelerin aktivasyon ve yakalama tesir kesitleri elde edilmistir. Elde edilen sonuçlar literatürle kiyaslanarak tartisilmistir.... Mehr